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DALIENTO, SANTOLO

DALIENTO, SANTOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Experimental Measurements of Majority and Minority Carrier Lifetime Profile in SI Epilayers by the Use of an Improved OCVD Method 1.1 Articolo in rivista 2005 S., Bellone; G. D., Licciardo; Daliento, Santolo; L., Mele
Approximate closed form analytical solution for minority carrier transport in opaque heavily doped regions under illuminated conditions 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; L., Mele
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
Analytical modelling and minority current measurements for the determination of the emitter surface recombination velocity in silicon solar cells 1.1 Articolo in rivista 2007 Daliento, Santolo; Mele, L; Bobeico, E; Lancellotti, L; Morvillo, P.
Characterization of recombination centers in Si epilayers after He implantation by direct measurement of local lifetime distribution with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2004 Spirito, Paolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An Improved Test Structure for Recombination Lifetime Profile Measurements in Very Thick Silicon Wafers 1.1 Articolo in rivista 1999 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito
Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements 1.1 Articolo in rivista 1995 Daliento, Santolo; N., Rinaldi; A., Sanseverino; P., Spirito
An Optical Technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a Laser Diode Probe System 1.1 Articolo in rivista 1998 A., Cutolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; G. F., Vitale; L., Zeni
Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements 1.1 Articolo in rivista 1996 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P. M., Sarro; P., Spirito; L., Zeni
Circuito per il bypass attivo di sotto-pannelli fotovoltaici basato su un transistore bipolare operante in saturazione 6.1 Brevetto 2012 D'Alessandro, Vincenzo; Daliento, Santolo; Matteo, Gargiulo; Guerriero, Pierluigi
Transparent and conductive thin films by Sol-gel 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2012 Aronne, Antonio; Tari, Orlando; M. L., Addonizio; Daliento, Santolo; Fanelli, Esther; Pernice, Pasquale
A PV AC-module based on coupled-inductors boost DC/AC converter 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Coppola, Marino; Guerriero, Pierluigi; DI NAPOLI, Fabio; Daliento, Santolo; Lauria, Davide; DEL PIZZO, Andrea
On the design and the control of a coupled-inductors boost dc-ac converter for an individual PV panel 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 Coppola, Marino; Daliento, Santolo; Guerriero, Pierluigi; Lauria, Davide; Napoli, Ettore
Parametric Description on the Effect on Electron Irradiation on Recombination Lifetime in Silicon Layer: An Experimental Approach 1.1 Articolo in rivista 1999 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito; L., Zeni
A Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit 1.1 Articolo in rivista 1999 S., Bellone; Daliento, Santolo; A., Sanseverino
Modelling and characterization of passivating layers for c-si concentrator cells 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 Daliento, Santolo; Tari, Orlando; L., Lancellotti; S., Gnanapragasam; E., Bobeico
Refractive index measurement in TCO layers for micro optoelectronic devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Daliento, Santolo; Guerriero, Pierluigi; M., Addonizio; A., Antonaia; E., Gambale
Analytical three-dimensional modelling of the potential distribution in theEmitter of concentrator solar cells under non uniform illumination 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 Costagliola, Maurizio; Daliento, Santolo; L., Lancellotti; F., Roca
An Analysis On The Recombination Mechanisms In The Intrinsic Layer Of P-i-N a-Si:H Solar Cell 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Tari, Orlando; Daliento, Santolo; Fanelli, Esther; Aronne, Antonio; Pernice, Pasquale; L., Lancellotti; P., Delli Veneri; L. V., Mercaldo; I., Usatii
Elettronica Generale 3.1 Monografia o trattato scientifico 2011 Daliento, Santolo; Irace, Andrea