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DALIENTO, SANTOLO

DALIENTO, SANTOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
An Improved Test Structure for Recombination Lifetime Profile Measurements in Very Thick Silicon Wafers 1.1 Articolo in rivista 1999 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito
Experimental Measurements of Majority and Minority Carrier Lifetime Profile in SI Epilayers by the Use of an Improved OCVD Method 1.1 Articolo in rivista 2005 S., Bellone; G. D., Licciardo; Daliento, Santolo; L., Mele
Analytical three-dimensional modelling of the potential distribution in theEmitter of concentrator solar cells under non uniform illumination 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 Costagliola, Maurizio; Daliento, Santolo; L., Lancellotti; F., Roca
Elettronica Generale 3.1 Monografia o trattato scientifico 2011 Daliento, Santolo; Irace, Andrea
Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements 1.1 Articolo in rivista 1995 Daliento, Santolo; N., Rinaldi; A., Sanseverino; P., Spirito
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
Induced degradation on c-Si solar cells for concentration terrestrial applications 1.1 Articolo in rivista 2010 L., Lancellotti; R., Fucci; A., Romano; A., Sarno; Daliento, Santolo
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
An Optical Technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a Laser Diode Probe System 1.1 Articolo in rivista 1998 A., Cutolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; G. F., Vitale; L., Zeni
Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements 1.1 Articolo in rivista 1996 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P. M., Sarro; P., Spirito; L., Zeni
Characterization of recombination centers in Si epilayers after He implantation by direct measurement of local lifetime distribution with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2004 Spirito, Paolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
Analytical modelling and minority current measurements for the determination of the emitter surface recombination velocity in silicon solar cells 1.1 Articolo in rivista 2007 Daliento, Santolo; Mele, L; Bobeico, E; Lancellotti, L; Morvillo, P.
Approximate closed form analytical solution for minority carrier transport in opaque heavily doped regions under illuminated conditions 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; L., Mele
Sol-gel Synthesis of ZnO thin films for photovoltaic applications 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 Tari, Orlando; Aronne, Antonio; M. L., Addonizio; Daliento, Santolo; Fanelli, Esther; Pernice, Pasquale
Recombination lifetime degradation in thermally stressed N-type bulk silicon wafer 4.1 Articoli in Atti di convegno 1997 Cutolo, A.; Daliento, Santolo; Irace, Andrea; Spirito, P.; Zeni, L.
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements 1.1 Articolo in rivista 1995 Daliento, Santolo; Rinaldi, Niccolo'; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito
A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo