An Optical Technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a Laser Diode Probe System / A., Cutolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; G. F., Vitale; L., Zeni. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - (1998).
An Optical Technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a Laser Diode Probe System
DALIENTO, SANTOLO;
1998
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