An Improved Test Structure for Recombination Lifetime Profile Measurements in Very Thick Silicon Wafers / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - (1999).
An Improved Test Structure for Recombination Lifetime Profile Measurements in Very Thick Silicon Wafers
DALIENTO, SANTOLO;
1999
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