A new measurement technique for the conductivity mobility versus injection level in Silicon / S., Bellone; G. V., Persiano; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Daliento, Santolo. - In: EPE JOURNAL. - ISSN 0939-8368. - STAMPA. - 7:1-2(1997), pp. 12-16.
A new measurement technique for the conductivity mobility versus injection level in Silicon
STROLLO, ANTONIO GIUSEPPE MARIA;DALIENTO, SANTOLO
1997
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