Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements / Daliento, Santolo; N., Rinaldi; A., Sanseverino; P., Spirito. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - (1995).
Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements
DALIENTO, SANTOLO;
1995
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