Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P. M., Sarro; P., Spirito; L., Zeni. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - (1996).
Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements
DALIENTO, SANTOLO;
1996
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