SASSO, GRAZIA

SASSO, GRAZIA  

Dipartimento di Ingegneria elettrica e delle Tecnologie dell'Informazione  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Accurate Mobility and Energy Relaxation Time Models for SiGe HBTs Numerical Simulation 1-gen-2009 Sasso, Grazia; G., Matz; C., Jungemann; Rinaldi, Niccolo'
Advanced thermal resistance simulation of SiGe HBTs including backend cooling effect 1-gen-2015 Magnani, Alessandro; Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Lorenzo, Codecasa; Rinaldi, Niccolo'; Klaus, Aufinger
Analysis of the thermal behavior of AlGaN/GaN HEMTs 1-gen-2011 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'
Analysis of the thermal behavior of AlGaN/GaN HEMTs 1-gen-2012 Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'
Analytical Models of Effective Dos, Saturation Velocity and High-Field Mobility for SiGe HBTs Numerical Simulation 1-gen-2010 Sasso, Grazia; G., Matz; C., Jungemann; Rinaldi, Niccolo'
Avalanche multiplication and pinch-in models for simulating electrical instability effects in SiGe HBTs 1-gen-2010 Sasso, Grazia; Costagliola, Maurizio; Rinaldi, Niccolo'
Evaluation and modeling of voltage stress-induced hot carrier effects in high-speed SiGe HBTs 1-gen-2014 Sasso, Grazia; Cristell, Maneux; Josef, Boeck; D'Alessandro, Vincenzo; Klaus, Aufinger; Thomas, Zimmer; Rinaldi, Niccolo'
Experimental DC extraction of the base resistance of bipolar transistors: Application to SiGe:C HBTs 1-gen-2016 D'Alessandro, Vincenzo; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'; Aufinger, Klaus
Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of SiGe HBTs for high-frequency applications 1-gen-2012 Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Russo, Salvatore; Rinaldi, Niccolo'
Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of Terahertz SiGe HBTs 1-gen-2011 Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Russo, Salvatore; Christoph, Jungemann; Rinaldi, Niccolo'
Influence of scaling and emitter layout on the thermal behavior of toward-THz SiGe:C HBTs 1-gen-2014 D'Alessandro, Vincenzo; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'; Klaus, Aufinger
Influence of vertical scaling and temperature on impact-ionization effects in SiGe HBTs 1-gen-2012 Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Rinaldi, Niccolo'
A microcontroller-based pulse generator for isothermal I-V measurements 1-gen-2012 Maurizio, Costagliola; D'Alessandro, Vincenzo; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'
Reliability of high-speed SiGe:C HBT under electrical stress close to the SOA limit 1-gen-2015 Thomas, Jacquet; Sasso, Grazia; Anjan, Chakravorty; Rinaldi, Niccolo'; Klaus, Aufinger; Thomas, Zimmer; D'Alessandro, Vincenzo; Cristell, Maneux
Scaling influence on the thermal behavior of toward-THz SiGe:C HBTs 1-gen-2013 D'Alessandro, Vincenzo; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'; Klaus, Aufinger
Scaling influence on the thermal behavior of toward-THz SiGe:C HBTs 1-gen-2014 D'Alessandro, Vincenzo; Sasso, Grazia; Rinaldi, Niccolo'; Klaus, Aufinger
TCAD simulation and development within the European DOTFIVE project on 500GHz SiGe:C HBT's 1-gen-2010 Mahmoud Al, Sa'Di; D'Alessandro, Vincenzo; Sebastien, Fregonese; Sung Min, Hong; Christoph, Jungemann; Cristell, Maneux; Ilaria, Marano; Ardechir, Pakfar; Rinaldi, Niccolo'; Sasso, Grazia; Michael, Schroter; Arturo Sibaja, Hernandez; Clement, Tavernier; Gerald, Wedel