Influence of vertical scaling and temperature on impact-ionization effects in SiGe HBTs / Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Rinaldi, Niccolo'. - (2012). (Intervento presentato al convegno IEEE 24th International Conference on Microelectronics (ICM) tenutosi a Algiers, Algeria nel Dec. 2012) [10.1109/ICM.2012.6471370].

Influence of vertical scaling and temperature on impact-ionization effects in SiGe HBTs

SASSO, GRAZIA;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2012

2012
9781467352925
Influence of vertical scaling and temperature on impact-ionization effects in SiGe HBTs / Sasso, Grazia; D'Alessandro, Vincenzo; Maurizio, Costagliola; Rinaldi, Niccolo'. - (2012). (Intervento presentato al convegno IEEE 24th International Conference on Microelectronics (ICM) tenutosi a Algiers, Algeria nel Dec. 2012) [10.1109/ICM.2012.6471370].
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