Avalanche multiplication and pinch-in models for simulating electrical instability effects in SiGe HBTs / Sasso, Grazia; Costagliola, Maurizio; Rinaldi, Niccolo'. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - ELETTRONICO. - 50:(2010), pp. 1577-1580.
Avalanche multiplication and pinch-in models for simulating electrical instability effects in SiGe HBTs
SASSO, GRAZIA;COSTAGLIOLA, MAURIZIO;RINALDI, NICCOLO'
2010
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