Evaluation and modeling of voltage stress-induced hot carrier effects in high-speed SiGe HBTs / Sasso, Grazia; Cristell, Maneux; Josef, Boeck; D'Alessandro, Vincenzo; Klaus, Aufinger; Thomas, Zimmer; Rinaldi, Niccolo'. - (2014). (Intervento presentato al convegno IEEE Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS) tenutosi a San Diego, California, USA nel Oct. 2014) [10.1109/CSICS.2014.6978552].
Evaluation and modeling of voltage stress-induced hot carrier effects in high-speed SiGe HBTs
SASSO, GRAZIA;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2014
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