Evaluation and modeling of voltage stress-induced hot carrier effects in high-speed SiGe HBTs / Sasso, G., Cristell, M., Josef, B., D'Alessandro, V., Klaus, A., Thomas, Z., Rinaldi, N.. - (2014). (IEEE Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS) San Diego, California, USA Oct. 2014) [10.1109/CSICS.2014.6978552].
Evaluation and modeling of voltage stress-induced hot carrier effects in high-speed SiGe HBTs
SASSO, GRAZIA;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2014
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