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Study of a failure mechanism during UIS switching of planar PT-IGBT with current sense cell 1.1 Articolo in rivista 2007 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
An equivalent time temperature mapping system with a 320x256 pixel full frame 100kHz sampling rate 1.1 Articolo in rivista 2007 Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
Fast Infrared thermal analysis of Smart Power MOSFETS in permanent short circuit operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo
THERMOS3, a tool for 3D electrothermal simulation of smart power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 G., Buonaiuto; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Thermal transient mapping systems for integrated semiconductor devices and circuits 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; Mele, L.; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA; Romano, Mario
THERMOS3, A TOOL FOR 3D ELECTROTHERMAL SIMULATION OF SMART POWER MOSFETS 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Giovanni, Buonaiuto; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Influence of layout geometries on the behavior of 4H-SiC 600V merged PiN Schottky (MPS) rectifiers 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
Effect of a buffer layer in the epi-substrate region to boost the avalanche capability of a 100V Schottky diode 1.1 Articolo in rivista 2006 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; A., Bricconi; D., Raffo; L., Merlin
TherMos3: a 3D electrothermal simulator for smart Power Devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Characterization of a Point-Wise Close Electric Field Sampling System exploiting the Electro-Optic Effect 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Development of an Electro-Optic step-by-step Sampling System for ICs Close Electro-Magnetic Field Measurement 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulations and analytical modeling 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2006 Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
Thermal Mapping of Power Devices with a Completely Automated Thermoreflectance Measurement System 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Enhancing commercial CAD tools toward the electrothermal simulation of power transistors 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Francesco M., De Paola; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
All electrical resistivity profiling technique for ion implanted semiconductor materials 1.1 Articolo in rivista 2005 Daliento, Santolo; Mele, Luigi; Spirito, Paolo; Limata, BENEDICTA NORMANNA
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
Studio del fenomeno dell'innesco di instabilita' termiche in MOSFET di potenza per basse tensioni: modellistica analitica e verifica sperimentale 8.02 Comunicazioni a Convegni o Seminari 2005 D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulation and analytical modeling 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
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