IRIS

RICCIO, MICHELE

RICCIO, MICHELE  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

Mostra records
Risultati 1 - 20 di 164 (tempo di esecuzione: 0.057 secondi).
Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
1300 V, 2 ms pulse inductive load switching test circuit with 20 ns selectable crowbar intervention 1.1 Articolo in rivista 2009 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Experimental Detection and Numerical Validation of Different Failure Mechanisms in IGBTs During Unclamped Inductive Switching 1.1 Articolo in rivista 2013 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo
An equivalent time temperature mapping system with a 320x256 pixel full frame 100kHz sampling rate 1.1 Articolo in rivista 2007 Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Thermal-aware design and fault analysis of a DC/DC parallel resonant converter 1.1 Articolo in rivista 2014 DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
50W X-band GaN MMIC HPA: Effective Power Capability and Transient Thermal Analysis 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 C., Costrini; A., Cetronio; P., Romanini; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Riccio, Michele
3D electro-thermal simulations of wide area power devices operating in avalanche condition 1.1 Articolo in rivista 2012 Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, L.; Breglio, Giovanni; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Iwahashi, Y.; Spirito, P.
Electro-thermal characterization of AlGaN/GaN HEMT on Silicon Microstrip Technology 1.1 Articolo in rivista 2011 Riccio, Michele; A., Pantellini; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; A., Nanni; C., Lanzieri
Thermal simulation and ultrafast IR temperature mapping of a Smart Power Switch for automotive applications 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; . Kosel V, .; Glavanovics, M.; Satka, A.
Lock-in thermography for the localization of prebreakdown leakage current on power diodes 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Riccio, Michele
Experimental analysis of electro-thermal instability in SiC Power MOSFETs 1.1 Articolo in rivista 2013 Riccio, Michele; A., Castellazzi; DE FALCO, Giuseppe; Irace, Andrea
A Dynamic Temperature Mapping System with a 320x256 Pixels Frame Size and 100kHz Sampling Rate 4.1 Articoli in Atti di convegno 2008 Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Short-circuit robustness of SiC Power MOSFETs: Experimental analysis2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Alberto, Castellazzi; Asad, Fayyaz; Li, Yang; Riccio, Michele; Irace, Andrea
Novel 3D electro-thermal robustness optimization approach of super junction power MOSFETs under unclamped inductive switching 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 J., Rhayem; A., Wieers; A., Vrbicky; P., Moens; A., Villamor Baliarda; J., Roig; P., Vanmeerbeek; Irace, Andrea; Riccio, Michele; M., Tack
Transmission line pulse system for avalanche characterization of high power semiconductor devicesVLSI Circuits and Systems VI 4.1 Articoli in Atti di convegno 2013 Riccio, Michele; Giovanni, Ascione; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, Luca; DE LAURENTIS, Martina; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2008 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
Temperature dependence of the resonance frequency of thermogravimetric devices 1.1 Articolo in rivista 2010 E., Iervolino; Riccio, Michele; A. W., van Herwaarden; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; W., van der Vlist; P. M., Sarroc
Physics of the Negative Resistance in the Avalanche I-V Curve of Field Stop IGBTs: Collector Design Rules for Improved Ruggedness 1.1 Articolo in rivista 2014 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Napoli, Ettore; Riccio, Michele
ELDO-COMSOL based 3D electro-thermal simulations of power semiconductor devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Floating field ring technique applied to enhance fill factor of silicon photomultiplier elementary cell 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Maresca, L.; DE LAURENTIS, Martina; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2010 Riccio, Michele; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Tagami; Y., Mizuno