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SPIRITO, PAOLO

SPIRITO, PAOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
The bipolar mode field effect transistor (BMFET) as an optically controlled switch: numerical and experimental results 1.1 Articolo in rivista 1996 Breglio, Giovanni; R., Casavola; A., Cutolo; Spirito, Paolo
Fast Infrared thermal analysis of Smart Power MOSFETS in permanent short circuit operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo
THERMOS3, a tool for 3D electrothermal simulation of smart power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 G., Buonaiuto; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT 4.1 Articoli in Atti di convegno 2002 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone
Analysis of local lifetime control and emitter efficiency control for the design of power PiN diodes 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Design criteria for PiN diode using multiple He ion implantation for local lifetime control 4.1 Articoli in Atti di convegno 1999 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Thermal transient mapping systems for integrated semiconductor devices and circuits 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Cell pitch influence on the current distribution during avalanche operation of trench IGBTs: Design issues to increase UIS ruggedness2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 Riccio, Michele; Maresca, Luca; DE FALCO, Giuseppe; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo; Y., Iwahashi
Effect of a buffer layer in the epi-substrate region to boost the avalanche capability of a 100V Schottky diode 1.1 Articolo in rivista 2006 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; A., Bricconi; D., Raffo; L., Merlin
A novel time-domain processor for real time SAR operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola; Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; M., Tesauro
Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; Mele, L.; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA; Romano, Mario
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE SURFACE RECOMBINATION VELOCITY 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; G., Contento; N., Martucciello; I., Nasti; F., Roca
A METHOD FOR IN-SITU CHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTOR INTERFACE DURING A-SI SOLAR CELL FABRICATION 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; N., Martucciello; F., Roca
THERMOS3, A TOOL FOR 3D ELECTROTHERMAL SIMULATION OF SMART POWER MOSFETS 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Giovanni, Buonaiuto; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE TERMINAL TEST STRUCTURE 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
Modeling and design of power PiN rectifier 8.10 Tesi di Dottorato 1999 Spirito, Paolo