SPIRITO, PAOLO
SPIRITO, PAOLO
Dipartimento di Ingegneria elettrica e delle Tecnologie dell'Informazione
Infrared Thermography applied to power electron devices investigation
2015 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Spirito, Paolo
Compact Electro-thermal Modeling and Simulation of Large Area Multicellular Trench-IGBT
2010 Riccio, Michele; M., Carli; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Enhancing commercial CAD tools toward the electrothermal simulation of power transistors
2006 Francesco M., De Paola; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulations and analytical modeling
2006 Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
A NEW TEST STRUCTURE FOR IN-SITU MEASUREMENTS OF INTERFACE RECOMBINATION DURING SURFACE TREATMENTS
2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
All electrical resistivity profiling technique for ion implanted semiconductor materials
2005 Daliento, Santolo; Mele, Luigi; Spirito, Paolo; Limata, BENEDICTA NORMANNA
A new electro-thermal simulation tool for the analysis of bipolar devices and circuits
2001 Michelangelo, Macchiaroli; Rinaldi, Niccolo'; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Efficient thermal models of multicellular devices
2003 D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Improved electro-thermal simulation of power devices
2002 Michelangelo, Macchiaroli; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Energy and current crowding limits in avalanche operation of IGBTs
2013 Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Modeling the onset of thermal instability in low voltage power MOS: An experimental validation
2005 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo
Analytical model for thermal instability of low voltage power MOS and S.O.A. in pulse operation
2002 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'
Influence of layout geometries on the behavior of 4H-SiC 600V merged PiN Schottky (MPS) rectifiers
2006 D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
Thermal instabilities in high current power MOS devices: Experimental evidence, electro-thermal simulations and analytical modeling
2002 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'
Thermal modelling and simulation of multicellular power devices
2003 D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulation and analytical modeling
2005 Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin
Achieving accuracy in modeling the temperature coefficient of threshold voltage in MOS transistors with uniform and horizontally nonuniform channel doping
2005 D'Alessandro, Vincenzo; Spirito, Paolo
Effect of the Collector Design on the IGBT Avalanche Ruggedness: A Comparative Analysis between Punch-Through and Field-Stop Devices
2015 Spirito, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore
Studio del fenomeno dell'innesco di instabilita' termiche in MOSFET di potenza per basse tensioni: modellistica analitica e verifica sperimentale
2005 D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo
Analysis of local lifetime control and emitter efficiency control for the design of power PiN diodes
1998 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Titolo | Tipologia | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Infrared Thermography applied to power electron devices investigation | 1.1 Articolo in rivista | 2015 | Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Spirito, Paolo | |
Compact Electro-thermal Modeling and Simulation of Large Area Multicellular Trench-IGBT | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2010 | Riccio, Michele; M., Carli; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo | |
Enhancing commercial CAD tools toward the electrothermal simulation of power transistors | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2006 | Francesco M., De Paola; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo | |
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulations and analytical modeling | 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) | 2006 | Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin | |
A NEW TEST STRUCTURE FOR IN-SITU MEASUREMENTS OF INTERFACE RECOMBINATION DURING SURFACE TREATMENTS | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2002 | Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca | |
All electrical resistivity profiling technique for ion implanted semiconductor materials | 1.1 Articolo in rivista | 2005 | Daliento, Santolo; Mele, Luigi; Spirito, Paolo; Limata, BENEDICTA NORMANNA | |
A new electro-thermal simulation tool for the analysis of bipolar devices and circuits | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2001 | Michelangelo, Macchiaroli; Rinaldi, Niccolo'; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo | |
Efficient thermal models of multicellular devices | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2003 | D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo | |
Improved electro-thermal simulation of power devices | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2002 | Michelangelo, Macchiaroli; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo | |
Energy and current crowding limits in avalanche operation of IGBTs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2013 | Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo | |
Modeling the onset of thermal instability in low voltage power MOS: An experimental validation | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2005 | Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo | |
Analytical model for thermal instability of low voltage power MOS and S.O.A. in pulse operation | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2002 | Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo' | |
Influence of layout geometries on the behavior of 4H-SiC 600V merged PiN Schottky (MPS) rectifiers | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2006 | D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Andrea, Bricconi; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin | |
Thermal instabilities in high current power MOS devices: Experimental evidence, electro-thermal simulations and analytical modeling | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2002 | Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo' | |
Thermal modelling and simulation of multicellular power devices | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2003 | D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo | |
Electrothermal issues in 4H-SiC 600 V Schottky diodes in forward mode: Experimental characterization, numerical simulation and analytical modeling | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2005 | Irace, Andrea; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Rossano, Carta; Diego, Raffo; Luigi, Merlin | |
Achieving accuracy in modeling the temperature coefficient of threshold voltage in MOS transistors with uniform and horizontally nonuniform channel doping | 1.1 Articolo in rivista | 2005 | D'Alessandro, Vincenzo; Spirito, Paolo | |
Effect of the Collector Design on the IGBT Avalanche Ruggedness: A Comparative Analysis between Punch-Through and Field-Stop Devices | 1.1 Articolo in rivista | 2015 | Spirito, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore | |
Studio del fenomeno dell'innesco di instabilita' termiche in MOSFET di potenza per basse tensioni: modellistica analitica e verifica sperimentale | 8.02 Comunicazioni a Convegni o Seminari | 2005 | D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, Paolo | |
Analysis of local lifetime control and emitter efficiency control for the design of power PiN diodes | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 1998 | Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo |