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SPIRITO, PAOLO

SPIRITO, PAOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
The bipolar mode field effect transistor (BMFET) as an optically controlled switch: numerical and experimental results 1.1 Articolo in rivista 1996 Breglio, Giovanni; R., Casavola; A., Cutolo; Spirito, Paolo
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
Characterization of recombination centers in Si epilayers after He implantation by direct measurement of local lifetime distribution with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2004 Spirito, Paolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
A METHOD FOR IN-SITU CHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTOR INTERFACE DURING A-SI SOLAR CELL FABRICATION 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; N., Martucciello; F., Roca
Lifetime and resistivity modifications induced by helium implantation in silicon: experimental analysis with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2008 Daliento, Santolo; Mele, L; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE SURFACE RECOMBINATION VELOCITY 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; G., Contento; N., Martucciello; I., Nasti; F., Roca
Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2010 Riccio, Michele; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Tagami; Y., Mizuno
Thermal Mapping of Power Devices with a Completely Automated Thermoreflectance Measurement System 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
A VLSI architecture for real time processing of one-bit coded SAR signals 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; M., Tesauro; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Napoli, Ettore; C., Cimino; Spirito, Paolo; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola
ON THE SAFE OPERATING AREA OF POWER SCHOTTKY DIODES IN AVALANCHE CONDITIONS 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; A., Bricconi; D., Raffo; L., Merlin
A novel UIS test system with Crowbar feedback for reduced failure energy in power devices testing 1.1 Articolo in rivista 2010 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Development of an Electro-Optic step-by-step Sampling System for ICs Close Electro-Magnetic Field Measurement 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Fast Infrared thermal analysis of Smart Power MOSFETS in permanent short circuit operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo
A new test structure for lifetime profiling in very thick lightly doped silicon material 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Modeling and design of power PiN rectifier 8.10 Tesi di Dottorato 1999 Spirito, Paolo
Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2005 L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo