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SPIRITO, PAOLO

SPIRITO, PAOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
The bipolar mode field effect transistor (BMFET) as an optically controlled switch: numerical and experimental results 1.1 Articolo in rivista 1996 Breglio, Giovanni; R., Casavola; A., Cutolo; Spirito, Paolo
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
A VLSI architecture for real time processing of one-bit coded SAR signals 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; M., Tesauro; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Napoli, Ettore; C., Cimino; Spirito, Paolo; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola
Development of an Electro-Optic step-by-step Sampling System for ICs Close Electro-Magnetic Field Measurement 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
A novel time-domain processor for real time SAR operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola; Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; M., Tesauro
Characterization of recombination centers in Si epilayers after He implantation by direct measurement of local lifetime distribution with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2004 Spirito, Paolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
THERMOS3, A TOOL FOR 3D ELECTROTHERMAL SIMULATION OF SMART POWER MOSFETS 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Giovanni, Buonaiuto; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT 4.1 Articoli in Atti di convegno 2002 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone
Educational issues for power semiconductor devices (invited paper) 1.1 Articolo in rivista 1996 Spirito, Paolo
Study of a failure mechanism during UIS switching of planar PT-IGBT with current sense cell 1.1 Articolo in rivista 2007 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
Design of a 600V Punch-through IGBT using local lifetime control. On-state voltage drop vs. turn-off time optimization. 4.1 Articoli in Atti di convegno 2002 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone
Single Chip Implementation of 600V IGBT and Freewheeling Diode 4.1 Articoli in Atti di convegno 2002 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone
A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
PiN diode optimal design using local lifetime control 1.1 Articolo in rivista 1999 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Reliability enhancement with the aid of transient infrared thermal analysis of smart Power MOSFETs during short circuit operation 1.1 Articolo in rivista 2005 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Letor; S., Russo
Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2008 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta
Experimental characterization of temperature distribution on Power MOS devices during Unclamped Inductive Switching 1.1 Articolo in rivista 2004 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; E., D'Arcangelo