A NEW TEST STRUCTURE FOR IN-SITU MEASUREMENTS OF INTERFACE RECOMBINATION DURING SURFACE TREATMENTS / Daliento, S., Spirito, P., Sanseverino, A., F., R.. - (2002), pp. 24-26. (32nd European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2002; Firenze; Italy; 24 September 2002 ) [10.1109/ESSDERC.2002.195009].
A NEW TEST STRUCTURE FOR IN-SITU MEASUREMENTS OF INTERFACE RECOMBINATION DURING SURFACE TREATMENTS
DALIENTO, SANTOLO;SPIRITO, PAOLO;SANSEVERINO, ANNUNZIATA;
2002
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