Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements / Daliento, Santolo; Rinaldi, Niccolo'; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 42:11(1995), pp. 1924-1928.
Two dimensional analysis of a test structure for lifetime profile measurements
DALIENTO, SANTOLO;RINALDI, NICCOLO';SANSEVERINO, ANNUNZIATA;
1995
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