A new test structure for lifetime profiling in very thick lightly doped silicon material / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo. - STAMPA. - (1998), pp. 000-000. (Intervento presentato al convegno ISPS'98 tenutosi a Praga nel 1 -4 settembre).
A new test structure for lifetime profiling in very thick lightly doped silicon material
DALIENTO, SANTOLO;SPIRITO, PAOLO
1998
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