A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo. - STAMPA. - (1998), pp. 000-000. (Intervento presentato al convegno ISPS 98 tenutosi a Praga nel 1-4 Settembre).
A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon
DALIENTO, SANTOLO;SPIRITO, PAOLO
1998
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