A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon / Daliento, S., A., S., Spirito, P.. - STAMPA. - (1998), pp. 000-000. (ISPS 98 Praga 1-4 Settembre).
A novel test structure for the measurement of the multiplication coefficient in silicon
DALIENTO, SANTOLO;SPIRITO, PAOLO
1998
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