He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT / Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone. - STAMPA. - (2002), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno EPE-PEMC 2002 tenutosi a Cavtat & Dubrovnik, CROATIA nel 9-11 September 2002).

He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT

NAPOLI, ETTORE;STROLLO, ANTONIO GIUSEPPE MARIA;SPIRITO, PAOLO;
2002

2002
9789531840477
He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT / Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone. - STAMPA. - (2002), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno EPE-PEMC 2002 tenutosi a Cavtat & Dubrovnik, CROATIA nel 9-11 September 2002).
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