He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT / Napoli, E., Strollo, A.G.M., Spirito, P., F., F., L., F., D., F.. - STAMPA. - (2002), pp. 1-5. (EPE-PEMC 2002 Cavtat & Dubrovnik, CROATIA 9-11 September 2002).
He voids lifetime control compared with buffer-layer engineering for a 600V punch-through IGBT
NAPOLI, ETTORE;STROLLO, ANTONIO GIUSEPPE MARIA;SPIRITO, PAOLO;
2002
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