Analytical model for thermal instability of low voltage power MOS and S.O.A. in pulse operation / Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'. - (2002), pp. 269-272. (Intervento presentato al convegno IEEE 14th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) tenutosi a SANTA FE, NEW MEXICO, USA nel Jun. 2002) [10.1109/ISPSD.2002.1016223].
Analytical model for thermal instability of low voltage power MOS and S.O.A. in pulse operation
SPIRITO, PAOLO;BREGLIO, GIOVANNI;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2002
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