Thermal instabilities in high current power MOS devices: Experimental evidence, electro-thermal simulations and analytical modeling / Spirito, P., Breglio, G., D'Alessandro, V., Rinaldi, N.. - 1:(2002), pp. 23-30. (IEEE 23rd International Conference on MIcroELectronics (MIEL) Niš, Yugoslavia May 2002) [10.1109/MIEL.2002.1003144].
Thermal instabilities in high current power MOS devices: Experimental evidence, electro-thermal simulations and analytical modeling
SPIRITO, PAOLO;BREGLIO, GIOVANNI;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2002
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