RICCIO, MICHELE

RICCIO, MICHELE  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Transmission line pulse system for avalanche characterization of high power semiconductor devicesVLSI Circuits and Systems VI 4.1 Articoli in Atti di convegno 2013 Riccio, Michele; Giovanni, Ascione; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, Luca; DE LAURENTIS, Martina; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
A novel UIS test system with Crowbar feedback for reduced failure energy in power devices testing 1.1 Articolo in rivista 2010 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Assessing the spatial correlation and conduction state of breakdown spot patterns in Pt/HfO2/Pt structures using transient infrared thermography 1.1 Articolo in rivista 2014 E., Miranda; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; J., Blasco; J., Sune; Irace, Andrea
Voltage drops, sawtooth oscillations and HF bursts in Breakdown Current and Voltage waveforms during UIS experiments 4.1 Articoli in Atti di convegno 2012 Irace, Andrea; Spirito, Paolo; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni
Electro-thermal characterization of AlGaN/GaN HEMT on Silicon Microstrip Technology 1.1 Articolo in rivista 2011 Riccio, Michele; A., Pantellini; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; A., Nanni; C., Lanzieri
Experimental analysis of electro-thermal instability in SiC Power MOSFETs 1.1 Articolo in rivista 2013 Riccio, Michele; A., Castellazzi; DE FALCO, Giuseppe; Irace, Andrea
Resonance frequency of locally heated cantilever beams 1.1 Articolo in rivista 2013 E., Iervolino; Riccio, Michele; F., Santagata; J., Wei; A. W., van Herwaarden; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; P. M., Sarro
Thermal simulation and ultrafast IR temperature mapping of a Smart Power Switch for automotive applications 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; . Kosel V, .; Glavanovics, M.; Satka, A.
50W X-band GaN MMIC HPA: Effective Power Capability and Transient Thermal Analysis 4.1 Articoli in Atti di convegno 2010 C., Costrini; A., Cetronio; P., Romanini; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Riccio, Michele
3D electro-thermal simulations of wide area power devices operating in avalanche condition 1.1 Articolo in rivista 2012 Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, L.; Breglio, Giovanni; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Iwahashi, Y.; Spirito, P.
Impact of gate drive voltage on avalanche robustness of trench IGBTs 1.1 Articolo in rivista 2014 Riccio, Michele; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Y., Iwahashi
Physics of the Negative Resistance in the Avalanche I-V Curve of Field Stop IGBTs: Collector Design Rules for Improved Ruggedness 1.1 Articolo in rivista 2014 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Napoli, Ettore; Riccio, Michele
Lock-in thermography for the localization of prebreakdown leakage current on power diodes 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Riccio, Michele
Thermal-aware design and fault analysis of a DC/DC parallel resonant converter 1.1 Articolo in rivista 2014 DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
Temperature dependence of the resonance frequency of thermogravimetric devices 1.1 Articolo in rivista 2010 E., Iervolino; Riccio, Michele; A. W., van Herwaarden; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; W., van der Vlist; P. M., Sarroc
Experimental Detection and Numerical Validation of Different Failure Mechanisms in IGBTs During Unclamped Inductive Switching 1.1 Articolo in rivista 2013 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo
An equivalent time temperature mapping system with a 320x256 pixel full frame 100kHz sampling rate 1.1 Articolo in rivista 2007 Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Analysis of large area Trench-IGBT current distribution under UIS test with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2010 Riccio, Michele; Rossi, Lucio; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; R., Tagami; Y., Mizuno
ELDO-COMSOL based 3D electro-thermal simulations of power semiconductor devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) 4.1 Articoli in Atti di convegno 2014 DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography 1.1 Articolo in rivista 2008 Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Napoli, Ettore; Riccio, Michele; Spirito, Paolo; K., Hamada; T., Nishijima; T., Ueta