Effects of the electronic threshold on the performance of the RPC system of the CMS experiment

Elmetenawee, W.; Samalan, A.; Tytgat, M.; Zaganidis, N.; Alves, G. A.; Marujo, F.; Da Silva De Araujo, F. T.; Costa, E. M. D.; Damiao, D. D. J.; Nogima, H.; Santoro, A.; De Souza, S. F.; Aleksandrov, A.; Hadjiiska, R.; Iaydjiev, P.; Rodozov, M.; Shopova, M.; Sultanov, G.; Bonchev, M.; Dimitrov, A.; Litov, L.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Petrov, A.; Qian, S. J.; Bernal, C.; Cabrera, A.; Fraga, J.; Sarkar, A.; Elsayed, S.; Assran, Y.; Sawy, M. E.; Mahmoud, M. A.; Mohammed, Y.; Combaret, C.; Gouzevitch, M.; Grenier, G.; Laktineh, I.; Mirabito, L.; Shchablo, K.; Bagaturia, I.; Lomidze, D.; Lomidze, I.; Bhatnagar, V.; Gupta, R.; Kumari, P.; Singh, J.; Amoozegar, V.; Boghrati, B.; Ebraimi, M.; Ghasemi, R.; Najafabadi, M. M.; Zareian, E.; Abbrescia, M.; Aly, R.; De Filippis, N.; Gelmi, A.; Iaselli, G.; Leszki, S.; Loddo, F.; Margjeka, I.; Pugliese, G.; Ramos, D.; Benussi, L.; Bianco, S.; Piccolo, D.; Buontempo, S.; Di Crescenzo, A.; Fienga, F.; De Lellis, G.; Lista, L.; Meola, S.; Paolucci, P.; Braghieri, A.; Salvini, P.; Montagna, P.; Riccardi, C.; Vitulo, P.; Francois, B.; Kim, T. J.; Park, J.; Choi, S. Y.; Hong, B.; Lee, K. S.; Goh, J.; Lee, H.; Eysermans, J.; Estrada, C. U.; Pedraza, I.; Castilla-Valdez, H.; Sanchez-Hernandez, A.; Herrera, C. A. M.; Navarro, D. A. P.; Sanchez, G. A. A.; Carrillo, S.; Vazquez, E.; Radi, A.; Ahmad, A.; Asghar, I.; Hoorani, H.; Muhammad, S.; Shah, M. A.; Crotty, I.

doi:10.1088/1748-0221/15/09/C09025

Resistive Plate Chambers have a very important role for muon triggering both in the barrel and in the endcap regions of the CMS experiment at the Large Hadron Collider (LHC) . In order to optimize their performance, it is of primary importance to tune the electronic threshold of the front-end boards reading the signals from these detectors. In this paper we present the results of a study aimed to evaluate the effects on the RPC efficiency, cluster size and detector intrinsic noise rate, of variations of the electronics threshold voltage.

Effects of the electronic threshold on the performance of the RPC system of the CMS experiment / Elmetenawee, W.; Samalan, A.; Tytgat, M.; Zaganidis, N.; Alves, G. A.; Marujo, F.; Da Silva De Araujo, F. T.; Costa, E. M. D.; Damiao, D. D. J.; Nogima, H.; Santoro, A.; De Souza, S. F.; Aleksandrov, A.; Hadjiiska, R.; Iaydjiev, P.; Rodozov, M.; Shopova, M.; Sultanov, G.; Bonchev, M.; Dimitrov, A.; Litov, L.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Petrov, A.; Qian, S. J.; Bernal, C.; Cabrera, A.; Fraga, J.; Sarkar, A.; Elsayed, S.; Assran, Y.; Sawy, M. E.; Mahmoud, M. A.; Mohammed, Y.; Combaret, C.; Gouzevitch, M.; Grenier, G.; Laktineh, I.; Mirabito, L.; Shchablo, K.; Bagaturia, I.; Lomidze, D.; Lomidze, I.; Bhatnagar, V.; Gupta, R.; Kumari, P.; Singh, J.; Amoozegar, V.; Boghrati, B.; Ebraimi, M.; Ghasemi, R.; Najafabadi, M. M.; Zareian, E.; Abbrescia, M.; Aly, R.; De Filippis, N.; Gelmi, A.; Iaselli, G.; Leszki, S.; Loddo, F.; Margjeka, I.; Pugliese, G.; Ramos, D.; Benussi, L.; Bianco, S.; Piccolo, D.; Buontempo, S.; Di Crescenzo, A.; Fienga, F.; De Lellis, G.; Lista, L.; Meola, S.; Paolucci, P.; Braghieri, A.; Salvini, P.; Montagna, P.; Riccardi, C.; Vitulo, P.; Francois, B.; Kim, T. J.; Park, J.; Choi, S. Y.; Hong, B.; Lee, K. S.; Goh, J.; Lee, H.; Eysermans, J.; Estrada, C. U.; Pedraza, I.; Castilla-Valdez, H.; Sanchez-Hernandez, A.; Herrera, C. A. M.; Navarro, D. A. P.; Sanchez, G. A. A.; Carrillo, S.; Vazquez, E.; Radi, A.; Ahmad, A.; Asghar, I.; Hoorani, H.; Muhammad, S.; Shah, M. A.; Crotty, I.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 15:9(2020). [10.1088/1748-0221/15/09/C09025]