Avalanche ruggedness of parallel SiC power MOSFETs / Fayyaz, A.; Asllani, B.; Castellazzi, A.; Riccio, M.; Irace, A.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 88-90:(2018), pp. 666-670. [10.1016/j.microrel.2018.06.038]
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