Analysis of the influence of layout and technology parameters on the thermal impedance of GaAs HBT/BiFET using a highly-efficient tool / Magnani, Alessandro; D'Alessandro, Vincenzo; Lorenzo, Codecasa; Pete J., Zampardi; Brian, Moser; Rinaldi, Niccolo'. - (2014). (Intervento presentato al convegno IEEE Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS) tenutosi a San Diego, California, USA nel Oct. 2014) [10.1109/CSICS.2014.6978543].

Analysis of the influence of layout and technology parameters on the thermal impedance of GaAs HBT/BiFET using a highly-efficient tool

MAGNANI, ALESSANDRO;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2014

2014
9781479936229
Analysis of the influence of layout and technology parameters on the thermal impedance of GaAs HBT/BiFET using a highly-efficient tool / Magnani, Alessandro; D'Alessandro, Vincenzo; Lorenzo, Codecasa; Pete J., Zampardi; Brian, Moser; Rinaldi, Niccolo'. - (2014). (Intervento presentato al convegno IEEE Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS) tenutosi a San Diego, California, USA nel Oct. 2014) [10.1109/CSICS.2014.6978543].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/585910
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 28
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 12
social impact