Analysis of the influence of layout and technology parameters on the thermal impedance of GaAs HBT/BiFET using a highly-efficient tool / Magnani, A., D'Alessandro, V., Lorenzo, C., Pete J., Z., Brian, M., Rinaldi, N.. - (2014). (IEEE Compound Semiconductor IC Symposium (CSICS) San Diego, California, USA Oct. 2014) [10.1109/CSICS.2014.6978543].
Analysis of the influence of layout and technology parameters on the thermal impedance of GaAs HBT/BiFET using a highly-efficient tool
MAGNANI, ALESSANDRO;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2014
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