3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions / Riccio, M., D'Alessandro, V., Irace, A., Gilles, R., Mounira, B., Stephane, L., Philippe, D.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 54:9-10(2014), pp. 1845-1850. [10.1016/j.microrel.2014.08.011]
3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions
RICCIO, MICHELE;d'ALESSANDRO, VINCENZO;IRACE, ANDREA;
2014
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