3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions / Riccio, Michele; D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Gilles, Rostaing; Mounira, Berkani; Stephane, Lefebvre; Philippe, Dupuy. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 54:9-10(2014), pp. 1845-1850. [10.1016/j.microrel.2014.08.011]

3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions

RICCIO, MICHELE;d'ALESSANDRO, VINCENZO;IRACE, ANDREA;
2014

2014
3-D electrothermal simulation of active cycling on smart power MOSFETs during short-circuit and UIS conditions / Riccio, Michele; D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Gilles, Rostaing; Mounira, Berkani; Stephane, Lefebvre; Philippe, Dupuy. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 54:9-10(2014), pp. 1845-1850. [10.1016/j.microrel.2014.08.011]
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