Influence of charge balance on the robustness of trench-based super junction diodes / Ana Villamor, Baliarda; Pier, Vanmeerbeek; Riccio, Michele; D'Alessandro, Vincenzo; Irace, Andrea; Jaume, Roig; David, Flores; Peter, Moens. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 52:9-10(2012), pp. 2409-2413. [10.1016/j.microrel.2012.06.094]
Influence of charge balance on the robustness of trench-based super junction diodes
RICCIO, MICHELE;d'ALESSANDRO, VINCENZO;IRACE, ANDREA;
2012
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