Thermal mapping of new cellular power MOS affected by electro-thermal instability / Breglio, Giovanni; F., Frisina; A., Magrì; Rinaldi, Niccolo'; P., Spirito. - STAMPA. - (1999), pp. 184-189. (Intervento presentato al convegno THERMINIC’99 tenutosi a Roma nel 3-6 Ottorbre 1999).
Thermal mapping of new cellular power MOS affected by electro-thermal instability
BREGLIO, GIOVANNI;RINALDI, NICCOLO';
1999
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.