Microwave surface impedance measurements of epitaxial Bi2Sr2CaCu2O8+x films grown by LPE / Andreone, Antonello; Aruta, C.; Cassinese, A.; Palomba, F.; Vaglio, Ruggero; Balestrino, G.; Milani, E.. - In: PHYSICA. C, SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 0921-4534. - STAMPA. - (1997), pp. 275-279.
Microwave surface impedance measurements of epitaxial Bi2Sr2CaCu2O8+x films grown by LPE
ANDREONE, ANTONELLO;A. Cassinese;VAGLIO, RUGGERO;
1997
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