Analytical modeling and numerical simulations of the thermal behavior of trench-isolated bipolar transistors on SOI substrates / Ilaria, Marano; D'Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 52:5(2008), pp. 730-739. [10.1016/j.sse.2007.11.012]
Analytical modeling and numerical simulations of the thermal behavior of trench-isolated bipolar transistors on SOI substrates
d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2008
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.