Analytical formulation and electrical measurements of self-heating in silicon BJT's / Nebojsa, N., D'Alessandro, V., Lis K., N., Rinaldi, N., Hugo, S., Jan W., S.. - (2002), pp. 24-27. (IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) Monterey, California, USA Sep. 2002) [10.1109/BIPOL.2002.1042879].
Analytical formulation and electrical measurements of self-heating in silicon BJT's
d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO';
2002
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


