SPICE simulation of electro-thermal effects in new-generation multicellular VDMOS transistors / D'Alessandro, Vincenzo; Ferruccio, Frisina; Rinaldi, Niccolo'. - 1:(2002), pp. 201-204. (Intervento presentato al convegno IEEE 23rd International Conference on MIcroELectronics (MIEL) tenutosi a Niš, Yugoslavia nel May 2002) [10.1109/MIEL.2002.1003174].
SPICE simulation of electro-thermal effects in new-generation multicellular VDMOS transistors
d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO'
2002
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