An Optical technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a laser Diode Probe System / A., Cutolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Vitale, GIOVANNI FRANCESCO; L., Zeni. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 42:(1998), pp. 1035-1038.
An Optical technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a laser Diode Probe System
DALIENTO, SANTOLO;VITALE, GIOVANNI FRANCESCO;
1998
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