Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique / Andreone, A., Attanasio, C., Cassinese, A., DI CHIARA, A., Maritato, L., Salluzzo, M., Vaglio, R.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 78:(1995), pp. 1862-1865.
Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique
ANDREONE, ANTONELLO;A. CASSINESE;VAGLIO, RUGGERO
1995
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