Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique / Andreone, Antonello; Attanasio, C.; Cassinese, A.; DI CHIARA, A.; Maritato, L.; Salluzzo, M.; Vaglio, Ruggero. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 78:(1995), pp. 1862-1865.

Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique

ANDREONE, ANTONELLO;A. CASSINESE;VAGLIO, RUGGERO
1995

1995
Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique / Andreone, Antonello; Attanasio, C.; Cassinese, A.; DI CHIARA, A.; Maritato, L.; Salluzzo, M.; Vaglio, Ruggero. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 78:(1995), pp. 1862-1865.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/153558
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 6
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 9
social impact