Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique / Andreone, Antonello; Attanasio, C.; Cassinese, A.; DI CHIARA, A.; Maritato, L.; Salluzzo, M.; Vaglio, Ruggero. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 78:(1995), pp. 1862-1865.
Surface impedance measurements of superconducting V3Si films by a microstrip resonator technique
ANDREONE, ANTONELLO;A. CASSINESE;VAGLIO, RUGGERO
1995
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