Parametric Description on the Effect on Electron Irradiation on Recombination Lifetime in Silicon Layer: An Experimental Approach / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito; L., Zeni. - In: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS. - ISSN 0885-8993. - (1999).

Parametric Description on the Effect on Electron Irradiation on Recombination Lifetime in Silicon Layer: An Experimental Approach

DALIENTO, SANTOLO;
1999

1999
Parametric Description on the Effect on Electron Irradiation on Recombination Lifetime in Silicon Layer: An Experimental Approach / Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito; L., Zeni. - In: IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS. - ISSN 0885-8993. - (1999).
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