A Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit / S., Bellone; Daliento, Santolo; A., Sanseverino. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - (1999).
A Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit
DALIENTO, SANTOLO;
1999
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