An electrical technique for the measurement of the interface recombination velocity based on a three terminal test structu / Daliento, S., A., S., P., S., F., R.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - (2003).
An electrical technique for the measurement of the interface recombination velocity based on a three terminal test structu
DALIENTO, SANTOLO;
2003
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