Electrothermal phenomena in bipolar transistors and ICs: analysis, modeling, and simulation / Rinaldi, N., D'Alessandro, V., Francesco M., D.P.. - (2006), pp. 33-40. (IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) Maastricht, The Netherlands Oct. 2006) [10.1109/BIPOL.2006.311153].
Electrothermal phenomena in bipolar transistors and ICs: analysis, modeling, and simulation
RINALDI, NICCOLO';d'ALESSANDRO, VINCENZO;
2006
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