An experimental method to evaluate the dead layer thickness of X- and Gamma-ray semiconductor detectors / Dusi, W.; Donati, A.; Landini, G.; Perillo, Eugenio; Raulo, A.; Ventura, G.; Vitulli, S.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 51:(2004), pp. 3090-3093.
An experimental method to evaluate the dead layer thickness of X- and Gamma-ray semiconductor detectors
PERILLO, EUGENIO;
2004
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