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Analysis of device and circuit parameters variability in SiC MOSFETs-based multichip power module 4.1 Articoli in Atti di convegno 2018 Riccio, Michele; Borghese, Alessandro; Romano, Gianpaolo; D'Alessandro, Vincenzo; Fayyaz, Asad; Castellazzi, Alberto; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
High-temperature validated SiC power MOSFET model for flexible robustness analysis of multi-chip structures 4.1 Articoli in Atti di convegno 2018 Riccio, Michele; D'Alessandro, Vincenzo; Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Castellazzi, Alberto
Influence of gate bias on the avalanche ruggedness of SiC power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2017 Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti, J.; Wright, GERALDINE ANN
A comprehensive study on the avalanche breakdown robustness of silicon carbide power MOSFETs 1.1 Articolo in rivista 2017 Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Urresti, Jesus; Riccio, Michele; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea; Wright, Nick
Transient out-of-SOA robustness of SiC power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2017 Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti ibanez, Jesus; Wright, Nick
SiC power MOSFETs performance, robustness and technology maturity 1.1 Articolo in rivista 2016 Castellazzi, Alberto; Fayyaz, A.; Romano, Gianpaolo; Yang, L.; Riccio, Michele; Irace, Andrea
A comprehensive study of short-circuit ruggedness of silicon carbide power MOSFETs 1.1 Articolo in rivista 2016 Romano, Gianpaolo; Fayyaz, A.; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea
Influence of design parameters on the short-circuit ruggedness of SiC power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2016 Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto
Short-circuit failure mechanism of SiC power MOSFETs 4.1 Articoli in Atti di convegno 2015 Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; D'Alessandro, Vincenzo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Asad, Fayyaz; Castellazzi, Alberto
Single pulse avalanche robustness and repetitive stress ageing of SiC power MOSFETs 1.1 Articolo in rivista 2014 Fayyaz, A; Yang, L.; Riccio, Michele; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea
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