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Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon
2005 L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Rutherford backscattering spectrometry of real CdTe surfaces
1988 Perillo, Eugenio; Spadaccini, Giulio; Vigilante, Mariano; M., Savastano; A. M., Mancini; A., Quirini; L., Vasanelli; R., Giorgi
Titolo | Tipologia | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon | 1.1 Articolo in rivista | 2005 | L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo | |
Rutherford backscattering spectrometry of real CdTe surfaces | 1.1 Articolo in rivista | 1988 | Perillo, Eugenio; Spadaccini, Giulio; Vigilante, Mariano; M., Savastano; A. M., Mancini; A., Quirini; L., Vasanelli; R., Giorgi |
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