Boosting the thermal stability of paralleled GaAs HBTs through temperature-dependent ballasting resistors: A proof-of-concept study / Catalano, A.P., Scognamillo, C., Zampardi, P.J., D’Alessandro, V.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 155:(2024). [10.1016/j.microrel.2024.115361]
Boosting the thermal stability of paralleled GaAs HBTs through temperature-dependent ballasting resistors: A proof-of-concept study
Antonio Pio Catalano
;Ciro Scognamillo;Vincenzo d’Alessandro
2024
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


