Boosting the thermal stability of paralleled GaAs HBTs through temperature-dependent ballasting resistors: A proof-of-concept study / Catalano, Antonio Pio; Scognamillo, Ciro; Zampardi, Peter J.; D’Alessandro, Vincenzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 155:(2024). [10.1016/j.microrel.2024.115361]

Boosting the thermal stability of paralleled GaAs HBTs through temperature-dependent ballasting resistors: A proof-of-concept study

Antonio Pio Catalano
;
Ciro Scognamillo;Vincenzo d’Alessandro
2024

2024
Boosting the thermal stability of paralleled GaAs HBTs through temperature-dependent ballasting resistors: A proof-of-concept study / Catalano, Antonio Pio; Scognamillo, Ciro; Zampardi, Peter J.; D’Alessandro, Vincenzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 155:(2024). [10.1016/j.microrel.2024.115361]
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