High-resolution Analytical STEM of Defects and Interfaces in Beam-sensitive Ultra-thin Cuprate Films / Srot, V., Wang, Y.i., Minola, M., Salzberger, U., Salluzzo, M., Luca, G.M.D., Keimer, B., van Aken, P.. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1431-9276. - 26:S2(2020), pp. 2972-2973. [10.1017/s1431927620023387]
High-resolution Analytical STEM of Defects and Interfaces in Beam-sensitive Ultra-thin Cuprate Films
Salluzzo, Marco;Luca, Gabriella Maria De;
2020
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
