Measurements of the nonlinear refractive index of freestanding porous silicon layers at different wavelengths / Lettieri, S.; Maddalena, P.; Odierna, L. P.; Ninno, D.; La Ferrara, V.; Di Francia, G.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 81:2(2001), pp. 133-139. [10.1080/13642810108216530]
Measurements of the nonlinear refractive index of freestanding porous silicon layers at different wavelengths
Lettieri, S.Primo
;Maddalena, P.Secondo
;Ninno, D.;
2001
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