Measurement of B (Bs →dsX) with Bs semileptonic tagging

Wang, B.; Kinoshita, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; L. K., Li; Y. B., Li; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macnaughton, J.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S. -H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, Guido; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shiu, J. -G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Werbycka, O.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.

doi:10.1103/PhysRevD.105.012004

We report the first direct measurement of the inclusive branching fraction B(Bs→DsX) via Bs tagging in e+e-→ (5S) events. Tagging is accomplished through a partial reconstruction of semileptonic decays Bs→DsXℓν, where X denotes unreconstructed additional hadrons or photons and ℓ is an electron or muon. With 121.4 fb-1 of data collected at the (5S) resonance by the Belle detector at the KEKB asymmetric-energy e+e- collider, we obtain B(Bs→DsX)=(60.2±5.8±2.3)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Measurement of B (Bs →dsX) with Bs semileptonic tagging / Wang, B.; Kinoshita, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Behera, P.; Beleno, C.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chen, A.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Di Capua, F.; Di Carlo, S.; Dolezal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Fast, J. E.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Guan, Y.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W. -S.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jia, S.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kodys, P.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, J. Y.; Lee, S. C.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macnaughton, J.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Pang, T.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S. -H.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Russo, Guido; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shiu, J. -G.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Strube, J. F.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uglov, T.; Uno, S.; Usov, Y.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Werbycka, O.; Won, E.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 105:1(2022). [10.1103/PhysRevD.105.012004]