Charge identification of fragments produced in 16O beam interactions at 200 MeV/n and 400 MeV/n on C and C2H4 targets / Galati, G., Boccia, V., Alexandrov, A., Alpat, B., Ambrosi, G., Argirò, S., Barbanera, M., Bartosik, N., Battistoni, G., Bisogni, M.G., Bruni, G., Cavanna, F., Cerello, P., Ciarrocchi, E., Colombi, S., De Gregorio, A., De Lellis, G., Di Crescenzo, A., Di Ruzza, B., Donetti, M., et al.. - In: FRONTIERS IN PHYSICS. - ISSN 2296-424X. - 11:(2024). [10.3389/fphy.2023.1327202]
Charge identification of fragments produced in 16O beam interactions at 200 MeV/n and 400 MeV/n on C and C2H4 targets
Boccia, V.
;Alexandrov, A.;De Lellis, G.;Di Crescenzo, A.;Durante, M.;Iuliano, A.;Lauria, A.;Montesi, M. C.
2024
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