A critical review of techniques for the experimental extraction of the thermal resistance of bipolar transistors from DC measurements–Part I: Thermometer-based approaches / D’Alessandro, V., Catalano, A.P., Scognamillo, C., Müller, M., Schröter, M., Zampardi, P.J., Codecasa, L.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 12:16(2023). [10.3390/electronics12163471]
A critical review of techniques for the experimental extraction of the thermal resistance of bipolar transistors from DC measurements–Part I: Thermometer-based approaches
Vincenzo d’Alessandro;Antonio Pio Catalano;Ciro Scognamillo;Lorenzo Codecasa
2023
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