Special Issue on Design, Technology, and Test of Integrated Circuits and Systems / Bosio, A.; Barbareschi, M.. - In: JOURNAL OF CIRCUITS, SYSTEMS, AND COMPUTERS. - ISSN 0218-1266. - 28:supp01(2019), p. 1902001. [10.1142/S0218126619020018]
Special Issue on Design, Technology, and Test of Integrated Circuits and Systems
Barbareschi M.
2019
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