Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits / Traiola, M; Virazel, A; Girard, P; Barbareschi, M; Bosio, Alberto. - (2020), pp. 810-815. ( 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)) [10.23919/DATE48585.2020.9116341].

Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits

Barbareschi M
;
2020

2020
978-3-9819263-4-7
Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits / Traiola, M; Virazel, A; Girard, P; Barbareschi, M; Bosio, Alberto. - (2020), pp. 810-815. ( 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)) [10.23919/DATE48585.2020.9116341].
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