Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits / Traiola, M., Virazel, A., Girard, P., Barbareschi, M., Bosio, A.. - (2020), pp. 810-815. (2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) ) [10.23919/DATE48585.2020.9116341].

Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits

Barbareschi M
;
2020

2020
978-3-9819263-4-7
Maximizing Yield for Approximate Integrated Circuits / Traiola, M., Virazel, A., Girard, P., Barbareschi, M., Bosio, A.. - (2020), pp. 810-815. (2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) ) [10.23919/DATE48585.2020.9116341].
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