Junction temperature measurement in optically-activated power MOSFET / Rao, S.; Mallemace, E. D.; Casalino, M.; Cocorullo, G.; Dehimi, L.; Della Corte, F. G.. - In: JOURNAL OF OPTICS. - ISSN 2040-8978. - 24:3(2022), p. 034002. [10.1088/2040-8986/ac486c]
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