Junction temperature measurement in optically-activated power MOSFET / Rao, S.; Mallemace, E. D.; Casalino, M.; Cocorullo, G.; Dehimi, L.; Della Corte, F. G.. - In: JOURNAL OF OPTICS. - ISSN 2040-8978. - 24:3(2022), p. 034002. [10.1088/2040-8986/ac486c]

Junction temperature measurement in optically-activated power MOSFET

Della Corte F. G.
2022

2022
Junction temperature measurement in optically-activated power MOSFET / Rao, S.; Mallemace, E. D.; Casalino, M.; Cocorullo, G.; Dehimi, L.; Della Corte, F. G.. - In: JOURNAL OF OPTICS. - ISSN 2040-8978. - 24:3(2022), p. 034002. [10.1088/2040-8986/ac486c]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/915166
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact