Scintillator ageing of the T2K near detectors from 2010 to 2021 / Abe, K.; Akhlaq, N.; Akutsu, R.; Ali, A.; Alt, C.; Andreopoulos, C.; Antonova, M.; Aoki, S.; Arihara, T.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Ban, S.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barrow, D.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Bench, F.; Berardi, V.; Berns, L.; Bhadra, S.; Blanchet, A.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bonus, T.; Bordoni, S.; Boyd, S. B.; Bravar, A.; Bronner, C.; Bron, S.; Bubak, A.; Buizza Avanzini, M.; Calabria, N. F.; Cao, S.; Carter, A. J.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chakrani, J.; Cherdack, D.; Christodoulou, G.; Cicerchia, M.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Cudd, A.; Davydov, Yu. I.; De Roeck, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Delogu, C. C.; Densham, C.; Dergacheva, A.; Di Lodovico, F.; Dolan, S.; Douqa, D.; Doyle, T. A.; Drapier, O.; Duffy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Dygnarowicz, K.; Eguchi, A.; Emery-Schrenk, S.; Ershova, A.; Fedotov, S.; Fernandez, P.; Finch, A. J.; Fiorentini Aguirre, G. A.; Fiorillo, G.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fukuda, Y.; Fusshoeller, K.; Giganti, C.; Glagolev, V.; Gonin, M.; Goodman, E. A. G.; Gorin, A.; Grassi, M.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Haigh, J. T.; Hamacher-Baumann, P.; Harris, D. A.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hassani, S.; Hastings, N. C.; Hatzikoutelis, A.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Holin, A.; Holvey, T. J.; Hong Van, N. T.; Honjo, T.; Iacob, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Ishida, T.; Ishitsuka, M.; Israel, H. T.; Ives, S. J.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Izumi, N.; Jakkapu, M.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.; Jesús-Valls, C.; Jiang, J. J.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Jurj, P. B.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Kasetti, S. P.; Kataoka, Y.; Katayama, Y.; Katori, T.; Kawaue, M.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; Kikutani, H.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Kobata, T.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Kogan, G.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kostin, A.; Kowalik, K.; Kudenko, Y.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; La Commara, M.; Labarga, L.; Lachner, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Lamers James, M.; Lamont, I.; Lamoureux, M.; Last, D.; Latham, N.; Laveder, M.; Lawe, M.; Lee, Y.; Lin, C.; Lindner, T.; Lin, S. -K.; Litchfield, R. P.; Liu, S. L.; Longhin, A.; Long, K. R.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Nascimento Machado, L.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Mandal, M.; Manly, S.; Marino, A. D.; Marti-Magro, L.; Martin, D. G. R.; Martini, M.; Martin, J. F.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matveev, V.; Mauger, C.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Mccauley, N.; Mcelwee, J.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mefodiev, A.; Megias, G. D.; Mellet, L.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Miura, M.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Mueller, Th. A.; Munford, D.; Munteanu, L.; Nagai, K.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakagiri, K.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, H.; Nakamura, K.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Naseby, C. E. R.; Ngoc, T. V.; Nguyen, V. Q.; Niewczas, K.; Nishimura, Y.; Nishizaki, K.; Nova, F.; Novella, P.; Nugent, J. C.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Odagawa, T.; Ogawa, T.; Okada, R.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Paolone, V.; Pari, M.; Parlone, J.; Parsa, S.; Pasternak, J.; Pavin, M.; Payne, D.; Penn, G. C.; Perkin, J. D.; Pershey, D.; Pickering, L.; Pidcott, C.; Pintaudi, G.; Pistillo, C.; Popov, B.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Prabhu, Y. S.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Radics, B.; Ratoff, P. N.; Reh, M.; Riccio, C.; Rondio, E.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Ruggles, C. A.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Santucci, G.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shaikhiev, A.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Shorrock, W.; Shvartsman, A.; Skwarczynski, K.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, F. J. P.; Sonoda, Y.; Spina, R.; Su, H.; Suslov, I. A.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tada, M.; Takayasu, S.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tanaka, H. K.; Tanihara, Y.; Tani, M.; Tereshchenko, V. V.; Teshima, N.; Thamm, N.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Towstego, T.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Vacheret, A.; Vagins, M.; Vallari, Z.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vinning, W. G. S.; Vladisavljevic, T.; Wachala, T.; Waldron, A. V.; Walsh, J. G.; Wang, Y.; Wan, L.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wood, K.; Wret, C.; Xia, J.; Xu, Y. -h.; Yamamoto, K.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yershov, N.; Yevarouskaya, U.; Yokoyama, M.; Yoshimoto, Y.; Yu, M.; Zaki, R.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Zhao, X.; Zhu, T.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 17:10(2022), p. P10028. [10.1088/1748-0221/17/10/P10028]

Scintillator ageing of the T2K near detectors from 2010 to 2021

Calabria, N. F.;De Rosa, G.;Fiorillo, G.;La Commara, M.;Nascimento Machado, L.;Palladino, V.;Riccio, C.;Ruggeri, A. C.;
2022

2022
Scintillator ageing of the T2K near detectors from 2010 to 2021 / Abe, K.; Akhlaq, N.; Akutsu, R.; Ali, A.; Alt, C.; Andreopoulos, C.; Antonova, M.; Aoki, S.; Arihara, T.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Ban, S.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barrow, D.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Bench, F.; Berardi, V.; Berns, L.; Bhadra, S.; Blanchet, A.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bonus, T.; Bordoni, S.; Boyd, S. B.; Bravar, A.; Bronner, C.; Bron, S.; Bubak, A.; Buizza Avanzini, M.; Calabria, N. F.; Cao, S.; Carter, A. J.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chakrani, J.; Cherdack, D.; Christodoulou, G.; Cicerchia, M.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Cudd, A.; Davydov, Yu. I.; De Roeck, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Delogu, C. C.; Densham, C.; Dergacheva, A.; Di Lodovico, F.; Dolan, S.; Douqa, D.; Doyle, T. A.; Drapier, O.; Duffy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Dygnarowicz, K.; Eguchi, A.; Emery-Schrenk, S.; Ershova, A.; Fedotov, S.; Fernandez, P.; Finch, A. J.; Fiorentini Aguirre, G. A.; Fiorillo, G.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fukuda, Y.; Fusshoeller, K.; Giganti, C.; Glagolev, V.; Gonin, M.; Goodman, E. A. G.; Gorin, A.; Grassi, M.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Haigh, J. T.; Hamacher-Baumann, P.; Harris, D. A.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hassani, S.; Hastings, N. C.; Hatzikoutelis, A.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Holin, A.; Holvey, T. J.; Hong Van, N. T.; Honjo, T.; Iacob, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Ishida, T.; Ishitsuka, M.; Israel, H. T.; Ives, S. J.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Izumi, N.; Jakkapu, M.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.; Jesús-Valls, C.; Jiang, J. J.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Jurj, P. B.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Kasetti, S. P.; Kataoka, Y.; Katayama, Y.; Katori, T.; Kawaue, M.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; Kikutani, H.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Kobata, T.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Kogan, G.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kostin, A.; Kowalik, K.; Kudenko, Y.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; La Commara, M.; Labarga, L.; Lachner, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Lamers James, M.; Lamont, I.; Lamoureux, M.; Last, D.; Latham, N.; Laveder, M.; Lawe, M.; Lee, Y.; Lin, C.; Lindner, T.; Lin, S. -K.; Litchfield, R. P.; Liu, S. L.; Longhin, A.; Long, K. R.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Nascimento Machado, L.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Mandal, M.; Manly, S.; Marino, A. D.; Marti-Magro, L.; Martin, D. G. R.; Martini, M.; Martin, J. F.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matveev, V.; Mauger, C.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Mccauley, N.; Mcelwee, J.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mefodiev, A.; Megias, G. D.; Mellet, L.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Miura, M.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Mueller, Th. A.; Munford, D.; Munteanu, L.; Nagai, K.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakagiri, K.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, H.; Nakamura, K.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Naseby, C. E. R.; Ngoc, T. V.; Nguyen, V. Q.; Niewczas, K.; Nishimura, Y.; Nishizaki, K.; Nova, F.; Novella, P.; Nugent, J. C.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Odagawa, T.; Ogawa, T.; Okada, R.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Paolone, V.; Pari, M.; Parlone, J.; Parsa, S.; Pasternak, J.; Pavin, M.; Payne, D.; Penn, G. C.; Perkin, J. D.; Pershey, D.; Pickering, L.; Pidcott, C.; Pintaudi, G.; Pistillo, C.; Popov, B.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Prabhu, Y. S.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Radics, B.; Ratoff, P. N.; Reh, M.; Riccio, C.; Rondio, E.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Ruggles, C. A.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Santucci, G.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shaikhiev, A.; Shaykina, A.; Shiozawa, M.; Shorrock, W.; Shvartsman, A.; Skwarczynski, K.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, F. J. P.; Sonoda, Y.; Spina, R.; Su, H.; Suslov, I. A.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tada, M.; Takayasu, S.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tanaka, H. K.; Tanihara, Y.; Tani, M.; Tereshchenko, V. V.; Teshima, N.; Thamm, N.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Towstego, T.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Vacheret, A.; Vagins, M.; Vallari, Z.; Vargas, D.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vinning, W. G. S.; Vladisavljevic, T.; Wachala, T.; Waldron, A. V.; Walsh, J. G.; Wang, Y.; Wan, L.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wood, K.; Wret, C.; Xia, J.; Xu, Y. -h.; Yamamoto, K.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yershov, N.; Yevarouskaya, U.; Yokoyama, M.; Yoshimoto, Y.; Yu, M.; Zaki, R.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Zhao, X.; Zhu, T.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 17:10(2022), p. P10028. [10.1088/1748-0221/17/10/P10028]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11588/905529
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact